düşük insertion loss

Lebo: düşük insertion loss

Kisawazishi Kidogo cha Amplitudo chenye Utendaji wa Juu Kilichotengenezwa kwa Teknolojia ya GaAs-IPD

08/09/2026 Veri Anla

Katika mifumo ya microwave na radio frequency, hasara za njia ya upitishaji, dispersion na mekanizimu kama skin effect zinaweza kusababisha amplitude ya signal kudhoofika kwa viwango tofauti kulingana na frequency.

Tazama zaidi

Kisawazishi Kidogo cha Amplitudo chenye Utendaji wa Juu Kilichotengenezwa kwa Teknolojia ya GaAs-IPD

Maendeleo ya Hivi Karibuni katika Ugunduzi Teule na Nyeti wa Kielektrokemia wa Ioni za Zebaki Yenye Sumu (Hg⁺) na Lithi (Li⁺) kwa Kutumia Elektrodi Iliyorekebishwa ya La-CdO/CdO na Matumizi Yake ya Fotokatalitiki

Uchunguzi wa Arkeometri wa Vifaa vya Ujenzi vya Mahekalu ya Kibudha katika Eneo la Kharkhul Khaany Balgas

Immunohistokemia ya Utabiri katika Saratani ya Mapafu Isiyo ya Seli Ndogo – Viashiria-baiolojia, Companion Diagnostics na Vipimo vya Molekuli: Mapitio ya Simulizi

Mkusanyiko wa Kimataifa wa Viwango vya In Situ vya Kaboni Ogani ya Chembechembe, Nitrojeni Ogani ya Chembechembe na Fosforasi Ogani ya Chembechembe katika Maji ya Pwani na Bahari Kuu

Usanisi, Uchunguzi wa Kispectroskopi, Uchambuzi wa X-ray na Muundo wa 3,4-Dibromo- na 3,4-Diiodo-1,2,5-Thiadiazole