18/08/2026Veri Anla Taelim Lee və həmkarları HfO₂ əsaslı metal–izolyator–metal (MIM) kondensatorlarda alüminiumun film boyunca homogen paylanması əvəzinə idarə olunan konsentrasiya qradiyenti yaradılmasının dielektrik performansı necə dəyişdirdiyini eksperimental olaraq araşdırdılar. Daha çox baxın
Kuki seçimləri
Your experience on this site will be improved by allowing cookies Cookie Policy
Seçimləri fərdiləşdir
Your experience on this site will be improved by allowing cookies