13/08/2026Veri Anla Bu araştırma, yarıiletkenlerde elektron veya delikleri yakalayarak elektriksel taşınımı ve yeniden birleşmeyi etkileyen elektronik tuzak durumlarını, ek bir p-n veya Schottky bağlantısı oluşturmadan karakterize etmek için taşıyıcı ve tuzak çözünürlüklü foto-Hall (carrier- and trap-resolved photo-Hall, CTRPH) yöntemini geliştirmektedir. Daha fazla gör
Cookie preferences
Your experience on this site will be improved by allowing cookies Cookie Policy
Tercihleri özelleştir
Your experience on this site will be improved by allowing cookies
